MARCO PISANI
- Type
- Persona (Classe)
- Label
- MARCO PISANI (literal)
- MARCO PISANI (literal)
- Persona in rapporto
- Rapporto con CNR di DOTT. MARCO PISANI (Rapporto con CNR)
- Autore CNR di
- Nanometrology at IMGC (Abstract/Poster in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1302)
- Correlation between photoactivity and STM topographic parameters of TiO2 polycrystalline film (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Correlation between Photoactivity and STM Topographic Parameters of TiO2 Polycrystalline Film (Contributo in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)
- Metodo di compensazione della non-linearità di interferometri laser eterodina (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- Microscopio a sonda metrologico (Manufatti, prototipi d'arte e relativi progetti) (Prodotto della ricerca)
- A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Coautore
- GIANBARTOLO PICOTTO (Persona)
- WALTER PASIN (Persona)
- ENRICO MASSA (Persona)
- MARCO BISI (Unità di personale interno)
- Nome
- MARCO (literal)
- Cognome
- PISANI (literal)
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- Autore CNR
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- A sample scanning system with nanometric accuracy for quantitative SPM measurements (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
- Nanometrology at IMGC (Abstract/Poster in atti di convegno) (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1302)
- Microscopio a sonda metrologico (Manufatti, prototipi d'arte e relativi progetti) (Prodotto della ricerca)
- Metodo di compensazione della non-linearità di interferometri laser eterodina (Progetti) (Prodotto della ricerca)
- Coautore
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- ENRICO MASSA (Persona)
- MARCO BISI (Unità di personale interno)
- WALTER PASIN (Persona)
- Rapporto con persona
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