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					<div class="scheda"><h1>PIER GIORGIO MERLI</h1>
<dl><dt>Type</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/persone.owl#Persona' class = 'external' >Persona</a> (Classe)</li></ul></dd><dt>Label</dt><dd><ul><li>PIER GIORGIO MERLI (literal)</li><li>PIER GIORGIO MERLI (literal)</li></ul></dd><dt>Subject</dt><dd><ul><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Optical_devices' class = 'external' >Optical devices</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Microbiology' class = 'external' >Microbiology</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Microscopy' class = 'external' >Microscopy</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Measuring_instruments' class = 'external' >Measuring instruments</a> (Categoria DBpedia)</li></ul></dd><dt>Partecipa a commessa</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA13501-COMMESSA1277-ANNO2007'>Partecipazione a Commessa "Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze" (MD.P05.004) di DOTT. PIER GIORGIO MERLI nell'anno 2007</a> (Partecipazione a commessa)</li></ul></dd><dt>Persona in rapporto</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/MATRICOLA13501'>Rapporto con CNR di DOTT. PIER GIORGIO MERLI</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd><dt>Autore CNR di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35705'>Investigation of dopant profiles in nanosized materials by scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144905'>Dispositivo rivelatore per microscopio elettronico (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144927'>Detection device for Electron Microscope (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID136938'>Microscopia elettronica a scansione con elettroni secondari, retrodiffusi e trasmessi (Monografia o trattato scientifico)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35568'>Low-energy STEM of multilayers and dopant profiles (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35570'>Scanning electron microscopy of dopant distribution in semiconductors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID115510'>Low Energy STEM of Multi-layers and Dopant Profiles (Abstract/Poster in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID115556'>Electron microscopy of nanostructures: instrumental and methodological advances (Comunicazione a convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35410'>Phase transitions in gallium nanodroplets detected by dielectric spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID257821'>Dopant profile investigation in low-energy scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID169467'>Dopant profiling on ultrashallow junctions in Si with ADF-STEM (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35506'>Effects of Ta/Nb-doping on titania-based thin films for gas-sensing (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35681'>Electron microscope calibration for the Lorentz mode (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35524'>Effects of beam-specimen interaction on the observation of reverse-biased p-n junctions by electron interferometry (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID171020'>Conductive Sub-micrometric Wires of Platinum-Carbonyl Clusters Fabricated by Soft-lithography (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID178890'>Backscattered electron imaging and scanning transmission electron microscopy imaging of multi-layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID166872'>Dopant regions imaging in scanning electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36373'>Quantitative determination of the dopant distribution in Si ultrashallow junctions by tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35569'>About the role of boundary conditions on compositional imaging with a scanning electron microscope (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272213'>Characterization of nanowires of semiconducting metal-oxides and their functional properties (Comunicazione a convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID131482'>Stationary Secondary Electron Emission From CVD Diamond Films (Abstract/Poster in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35473'>Images of dopant profiles in low-energy scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36006'>Scanning electron microscopy of thinned specimens: From multilayers to biological samples (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35306'>Influence of charged oxide layers on TEM imaging of reverse-biased p-n junctions (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36025'>Contrast and resolution versus specimen thickness in low energy scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID257819'>On the spatial resolution and nanoscale feature visibility in scanning electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35398'>The double-slit experiment with single electrons (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35412'>New approach to study melting processes in metal nanoparticles: capacitance measurements (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35413'>Insight into the premelting and melting processes of metal nanoparticles through capacitance measurements (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID167126'>Electrical and holographic characterization of gold catalyzed titania-based layers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173553'>Scanning electron microscopy of thinned multilayers and biological samples (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36028'>Synthesis of small gold nanoparticles: Au(I) disproportionation catalyzed by a persulfurated coronene dentrimer (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID168756'>Optimization of the performance of CVD diamond electron multipliers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86823'>Si Ultra Shallow Junctions Dopant Profiling with ADF-STEM (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173551'>SEM and low energy STEM of Multilayers and Dopant profiles: hints for the specimen chamber design (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86550'>Interference Electron Microscopy of reverse biased p-n junction (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86548'>Electron Holography of Size- controlled Nanoclusters (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86551'>The effects of boundary conditions on dopant region imaging in scanning electron microscopy (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li></ul></dd><dt>Coautore</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA286'>ANTONELLA POGGI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA13781'>GIORGIO MATTEI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2649'>CLAUDIA SCILLETTA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12811'>LUCA ORTOLANI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9839'>VITTORIO MORANDI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA42155'>ANDREA PARISINI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2007'>PAOLO ASCARELLI</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA790'>EMILIA CAPPELLI</a> (Persona)</li><li><a 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interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2649'>CLAUDIA SCILLETTA</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA790'>EMILIA CAPPELLI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA42155'>ANDREA PARISINI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA13781'>GIORGIO MATTEI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID1933'>GIULIO POZZI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8501'>SILVIA MILITA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA29356'>FRANCO CORTICELLI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a 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GUIDARINI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9957'>FRANCO QUERCIOLI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA12523'>MARCO LUCE</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID6005'>ALBERTO DIASPRO</a> (Persona)</li></ul></dd>

</dl>

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(Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA203'>ANDREA MIGLIORI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA29356'>FRANCO CORTICELLI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9839'>VITTORIO MORANDI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA27951'>ALBERTO VOMIERO</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2272'>DANIELE MARIA TRUCCHI</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID1933'>GIULIO POZZI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID2007'>PAOLO ASCARELLI</a> (Unità di personale esterno)</li><li><a 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MATTEI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA8501'>SILVIA MILITA</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA42155'>ANDREA PARISINI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA19359'>SANDRO SOLMI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA286'>ANTONELLA POGGI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA203'>ANDREA MIGLIORI</a> (Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA29356'>FRANCO CORTICELLI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA9839'>VITTORIO MORANDI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a 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(Persona)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA11077'>DAVID BENCINI</a> (Unità di personale interno)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/unitaDiPersonaleEsterno/ID6005'>ALBERTO DIASPRO</a> (Persona)</li></ul></dd><dt>Ha afferente</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/istituto/CDS057'>Istituto per la microelettronica e microsistemi (IMM)</a> (Istituto)</li></ul></dd><dt>Autore CNR</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86548'>Electron Holography of Size- controlled Nanoclusters (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86550'>Interference Electron Microscopy of reverse biased p-n junction (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86551'>The effects of boundary conditions on dopant region imaging in scanning electron microscopy (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35398'>The double-slit experiment with single electrons (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35412'>New approach to study melting processes in metal nanoparticles: capacitance measurements (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35413'>Insight into the premelting and melting processes of metal nanoparticles through capacitance measurements (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35506'>Effects of Ta/Nb-doping on titania-based thin films for gas-sensing (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35524'>Effects of beam-specimen interaction on the observation of reverse-biased p-n junctions by electron interferometry (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36025'>Contrast and resolution versus specimen thickness in low energy scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35306'>Influence of charged oxide layers on TEM imaging of reverse-biased p-n junctions (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35473'>Images of dopant profiles in low-energy scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35569'>About the role of boundary conditions on compositional imaging with a scanning electron microscope (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35681'>Electron microscope calibration for the Lorentz mode (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36028'>Synthesis of small gold nanoparticles: Au(I) disproportionation catalyzed by a persulfurated coronene dentrimer (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35410'>Phase transitions in gallium nanodroplets detected by dielectric spectroscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35568'>Low-energy STEM of multilayers and dopant profiles (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35570'>Scanning electron microscopy of dopant distribution in semiconductors (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35705'>Investigation of dopant profiles in nanosized materials by scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36006'>Scanning electron microscopy of thinned specimens: From multilayers to biological samples (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID36373'>Quantitative determination of the dopant distribution in Si ultrashallow junctions by tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID86823'>Si Ultra Shallow Junctions Dopant Profiling with ADF-STEM (Contributo in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID131482'>Stationary Secondary Electron Emission From CVD Diamond Films (Abstract/Poster in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID115510'>Low Energy STEM of Multi-layers and Dopant Profiles (Abstract/Poster in atti di convegno)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID115556'>Electron microscopy of nanostructures: instrumental and methodological advances (Comunicazione a convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID136938'>Microscopia elettronica a scansione con elettroni secondari, retrodiffusi e trasmessi (Monografia o trattato scientifico)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID166872'>Dopant regions imaging in scanning electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144905'>Dispositivo rivelatore per microscopio elettronico (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID144927'>Detection device for Electron Microscope (Brevetto)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID167126'>Electrical and holographic characterization of gold catalyzed titania-based layers (Articolo in rivista)</a> (Prodotto della ricerca)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID169467'>Dopant profiling on ultrashallow junctions in Si with ADF-STEM (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID171020'>Conductive Sub-micrometric Wires of Platinum-Carbonyl Clusters Fabricated by Soft-lithography (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID178890'>Backscattered electron imaging and scanning transmission electron microscopy imaging of multi-layers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID168756'>Optimization of the performance of CVD diamond electron multipliers (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173551'>SEM and low energy STEM of Multilayers and Dopant profiles: hints for the specimen chamber design (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID173553'>Scanning electron microscopy of thinned multilayers and biological samples (Contributo in atti di convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1301)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID257821'>Dopant profile investigation in low-energy scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID257819'>On the spatial resolution and nanoscale feature visibility in scanning electron microscopy (Articolo in rivista)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1101)</li><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID272213'>Characterization of nanowires of semiconducting metal-oxides and their functional properties (Comunicazione a convegno)</a> (http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/TIPO1303)</li></ul></dd><dt>Partecipazione di</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/personale-partecipazioneacommessa/unitaDiPersonaleInterno/MATRICOLA13501-COMMESSA1277-ANNO2007'>Partecipazione a Commessa "Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze" (MD.P05.004) di DOTT. PIER GIORGIO MERLI nell'anno 2007</a> (Partecipazione a commessa)</li></ul></dd><dt>Rapporto con persona</dt><dd><ul><li><a href='http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/rapportoConCNR/MATRICOLA13501'>Rapporto con CNR di DOTT. PIER GIORGIO MERLI</a> (Rapporto con CNR)</li></ul></dd><dt>Http://www.w3.org/2004/02/skos/core#isSubjectOf</dt><dd><ul><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Optical_devices' class = 'external' >Optical devices</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Measuring_instruments' class = 'external' >Measuring instruments</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Microbiology' class = 'external' >Microbiology</a> (Categoria DBpedia)</li><li><a href='http://dbpedia.org/resource/Category:Microscopy' class = 'external' >Microscopy</a> (Categoria DBpedia)</li></ul></dd>

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