SAVERIO AURITE

Type

• Persona (Classe)

Label

• SAVERIO AURITE (literal)
• SAVERIO AURITE (literal)

Partecipa a commessa

• Partecipazione a Commessa "TRASPORTO IN MOS SCALATI E NUOVE STRUTTURE" (MD.P05.008) di SAVERIO AURITE nell'anno 2006 (Partecipazione a commessa)

Persona in rapporto

• Rapporto con CNR di SAVERIO AURITE (Rapporto con CNR)

Autore CNR di

• Crosstalk characterization in Geiger-mode avalanche photodiode arrays (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Measurement of the hot carrier damage profile in LDMOS devices stressed at high drain voltage (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)

Coautore

• DOMENICO CORSO (Unità di personale esterno)
• EMILIO SCIACCA (Persona)
• SALVATORE LOMBARDO (Persona)

Nome

• SAVERIO (literal)

Cognome

• AURITE (literal)

Afferisce a

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Ha pubblicazioni con

• SALVATORE LOMBARDO (Persona)
• EMILIO SCIACCA (Persona)
• DOMENICO CORSO (Unità di personale esterno)

Incoming links:

Ha afferente

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Coautore

• SALVATORE LOMBARDO (Persona)
• DOMENICO CORSO (Unità di personale esterno)
• EMILIO SCIACCA (Persona)

Ha pubblicazioni con

• SALVATORE LOMBARDO (Persona)
• DOMENICO CORSO (Unità di personale esterno)
• EMILIO SCIACCA (Persona)

Partecipazione di

• Partecipazione a Commessa "TRASPORTO IN MOS SCALATI E NUOVE STRUTTURE" (MD.P05.008) di SAVERIO AURITE nell'anno 2006 (Partecipazione a commessa)

Rapporto con persona

• Rapporto con CNR di SAVERIO AURITE (Rapporto con CNR)

Autore CNR

• Measurement of the hot carrier damage profile in LDMOS devices stressed at high drain voltage (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)
• Crosstalk characterization in Geiger-mode avalanche photodiode arrays (Articolo in rivista) (Prodotto della ricerca)