Bivariate EMD Analysis for Aircraft Component Inspection (Contributo in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Contributo in atti di convegno (Classe)

Label

• Bivariate EMD Analysis for Aircraft Component Inspection (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• M. Leo, D. Looney, T. D'Orazio, D. P. Mandic (2010)
  Bivariate EMD Analysis for Aircraft Component Inspection
  in EEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE-2010), Bari (ITALY)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• M. Leo, D. Looney, T. D'Orazio, D. P. Mandic (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• Bivariate EMD Analysis for Aircraft Component Inspection (literal)

Prodotto di

• Sistemi Intelligenti per la sicurezza (SP.P06.004.001) (Modulo)
• Institute of intelligent systems for automation (ISSIA) (Istituto)

Autore CNR

• TIZIANA RITA D'ORAZIO (Unità di personale interno)
• MARCO LEO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Institute of intelligent systems for automation (ISSIA) (Istituto)
• Sistemi Intelligenti per la sicurezza (SP.P06.004.001) (Modulo)

Autore CNR di

• TIZIANA RITA D'ORAZIO (Unità di personale interno)
• MARCO LEO (Unità di personale interno)