On-wafer experimental characterization for a 4-port circuit, using a two-port Vector Network Analyzer (Contributo in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Contributo in atti di convegno (Classe)

Label

• On-wafer experimental characterization for a 4-port circuit, using a two-port Vector Network Analyzer (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1109/SMICND.2008.4703375 (literal)

Alternative label

• Simion S, Sajin G, Marcelli R, Bartolucci G (2008)
  On-wafer experimental characterization for a 4-port circuit, using a two-port Vector Network Analyzer
  in International Semiconductor Conference, IEEE CAS 2008, Sinaia, Romania, October 13 - 15, 2008
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Simion S, Sajin G, Marcelli R, Bartolucci G (literal)

Pagina inizio

• 223 (literal)

Pagina fine

• 226 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Proceedings of the International Semiconductor Conference, IEEE CAS 2008 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 4 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IMM Roma Università di Roma \"Tor Vergata\" Military Technical Academy, Bucuresti, Romania (literal)

Titolo

• On-wafer experimental characterization for a 4-port circuit, using a two-port Vector Network Analyzer (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn

• 978-1-4244-2004-9 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriVolume

• AA.VV. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• Editors: Dan Dascalu, General Chairman and Adrian Rusu, Technical Program Chair (literal)

Abstract

• The paper presents an experimental method useful to characterize a four-port circuit, using a twoport VNA (Vector Network Analyzer). As an example, the method is applied for a coupler. The results obtained by using this method and the expected results obtained by simulation are in good agreement. (literal)

Editore

• CAS Office (Editore)

Prodotto di

• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• GIANCARLO BARTOLUCCI (Unità di personale esterno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "On-wafer experimental characterization for a 4-port circuit, using a two-port Vector Network Analyzer" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• GIANCARLO BARTOLUCCI (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)

Editore di

• CAS Office (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "On-wafer experimental characterization for a 4-port circuit, using a two-port Vector Network Analyzer" (Insieme di parole chiave)