Electron Spin Resonance Characterization of Silicon Nanowires (Contributo in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Contributo in atti di convegno (Classe)

Label

• Electron Spin Resonance Characterization of Silicon Nanowires (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Fanciulli M, Vellei A, Canevali C, Baldovino S (2010)
  Electron Spin Resonance Characterization of Silicon Nanowires
  in MRS Fall Meeting: Symposium AA: Group IV Semiconductor Nanostructures and Applications, Boston, USA
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Fanciulli M, Vellei A, Canevali C, Baldovino S (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• 1. Dipartimento di Scienza dei Materiali, Università di Milano Bicocca, Milano, Italy; 2. MDM Laboratory, CNR - IMM, Agrate Brianza, Italy (literal)

Titolo

• Electron Spin Resonance Characterization of Silicon Nanowires (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• MD.P05.007.001 Materiali, processi, e tecniche analitiche per la realizzazione di dispositivi innovativi con funzionalità logiche o di memoria non volatile integrabili su Silicio (MD.P05.007.002) (Modulo)

Autore CNR

• MARCO FANCIULLI (Persona)

Incoming links:

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• MD.P05.007.001 Materiali, processi, e tecniche analitiche per la realizzazione di dispositivi innovativi con funzionalità logiche o di memoria non volatile integrabili su Silicio (MD.P05.007.002) (Modulo)

Autore CNR di

• MARCO FANCIULLI (Persona)