FDTD Modeling of Void Defects in VLSI Interconnection (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • FDTD Modeling of Void Defects in VLSI Interconnection (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Alimenti F, Impronta M, Palazzari V, Placidi P, Stopponi G, Scorzoni A, Roselli L (2002)
    FDTD Modeling of Void Defects in VLSI Interconnection
    in XXVII General Assembly of URSI, Maastricht (NE)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Alimenti F, Impronta M, Palazzari V, Placidi P, Stopponi G, Scorzoni A, Roselli L (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • CNR-IMM, I-40129 Bologna, Italy; Univ Perugia, DIEI, I-06131 Perugia, Italy (literal)
Titolo
  • FDTD Modeling of Void Defects in VLSI Interconnection (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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