Spectroscopic ellipsometry characterization of Interface reactivity in GaAs-based superlattices (Contributo in atti di convegno)

Type

• Contributo in atti di convegno (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Spectroscopic ellipsometry characterization of Interface reactivity in GaAs-based superlattices (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• M. Losurdo, D. Giuva, M.M. Giangregorio, G. Bruno (2003)
  Spectroscopic ellipsometry characterization of Interface reactivity in GaAs-based superlattices
  in Int. Conf. On Spectroscopic ellipsometry, ICSE-3, July 6-11, 2003, Vienna., Vienna
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• M. Losurdo, D. Giuva, M.M. Giangregorio, G. Bruno (literal)

Titolo

• Spectroscopic ellipsometry characterization of Interface reactivity in GaAs-based superlattices (literal)

Prodotto di

• Istituto di Nanotecnologia (NANOTEC) (Istituto)

Autore CNR

• MARIA LOSURDO (Unità di personale interno)
• GIOVANNI BRUNO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di Nanotecnologia (NANOTEC) (Istituto)

Autore CNR di

• GIOVANNI BRUNO (Unità di personale interno)
• MARIA LOSURDO (Unità di personale interno)