Interrelation of bond configuration and optical properties of mc-Si thin films by spectroscopic ellipsometry (Contributo in atti di convegno)

Type

• Contributo in atti di convegno (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Interrelation of bond configuration and optical properties of mc-Si thin films by spectroscopic ellipsometry (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• M. Losurdo, G. Iannuzzi, P. Capezzuto, G. Bruno (2003)
  Interrelation of bond configuration and optical properties of mc-Si thin films by spectroscopic ellipsometry
  in Electrochemical. Soc. Proceed. Vol. 2003-08, p. 378-385 (2003)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• M. Losurdo, G. Iannuzzi, P. Capezzuto, G. Bruno (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IMIP (literal)

Titolo

• Interrelation of bond configuration and optical properties of mc-Si thin films by spectroscopic ellipsometry (literal)

Prodotto di

• Istituto di Nanotecnologia (NANOTEC) (Istituto)

Autore CNR

• GIOVANNI BRUNO (Unità di personale interno)
• MARIA LOSURDO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di Nanotecnologia (NANOTEC) (Istituto)

Autore CNR di

• GIOVANNI BRUNO (Unità di personale interno)
• MARIA LOSURDO (Unità di personale interno)