Reliability assessment of discrete-trap memories for NOR applications (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Reliability assessment of discrete-trap memories for NOR applications (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • C. Monzio Compagnoni, D. Ielmini, A.S. Spinelli, A. L. Lacaita, R. Sotgiu (2005)
    Reliability assessment of discrete-trap memories for NOR applications
    in International Reliability Physics Sinposium
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • C. Monzio Compagnoni, D. Ielmini, A.S. Spinelli, A. L. Lacaita, R. Sotgiu (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
  • Proc. of 2005 Int. Reliability Physics Sinposium,, 240-245 (literal)
Titolo
  • Reliability assessment of discrete-trap memories for NOR applications (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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