A new charge-trapping technique to extract SILC-trap time constants in SiO2 (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • A new charge-trapping technique to extract SILC-trap time constants in SiO2 (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • D. Ielmini, A. S. Spinelli, A. L. Lacaita, L. Chiavarone, A. Visconti (2005)
    A new charge-trapping technique to extract SILC-trap time constants in SiO2
    in International Electron Device Meeting
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • D. Ielmini, A. S. Spinelli, A. L. Lacaita, L. Chiavarone, A. Visconti (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
  • Tech. Dig. of 2005 International Electron Device Meeting, pp.551-554 (literal)
Titolo
  • A new charge-trapping technique to extract SILC-trap time constants in SiO2 (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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data.CNR.it