Thickness effects in tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Thickness effects in tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Parisini A., Morandi V. and Mezzotero S. (2009)
  Thickness effects in tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy
  
  (literal)

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• Parisini A., Morandi V. and Mezzotero S. (literal)

Pagina inizio

• 19 (literal)

Pagina fine

• 21 (literal)

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• 23 (literal)

Titolo

• Thickness effects in tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR

• VITTORIO MORANDI (Persona)
• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)
• VITTORIO MORANDI (Persona)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)