THICKNESS EFFECTS IN TILTED SAMPLE ANNULAR DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• THICKNESS EFFECTS IN TILTED SAMPLE ANNULAR DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2008-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Parisini A, Morandi V, Mezzotero S A (2008)
  THICKNESS EFFECTS IN TILTED SAMPLE ANNULAR DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Parisini A, Morandi V, Mezzotero S A (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• IMM-CNR Bologna; University of Bologna, hysics Department (literal)

Titolo

• THICKNESS EFFECTS IN TILTED SAMPLE ANNULAR DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY (literal)

Prodotto di

• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• VITTORIO MORANDI (Persona)
• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• ANDREA PARISINI (Unità di personale interno)
• VITTORIO MORANDI (Persona)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)