Scanning Capacitance Microscopy in Microelectronics (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Scanning Capacitance Microscopy in Microelectronics (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Raineri V, Giannazzo F, Lo Nigro R, Roccaforte F (2004)
  Scanning Capacitance Microscopy in Microelectronics
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Raineri V, Giannazzo F, Lo Nigro R, Roccaforte F (literal)

Pagina inizio

• 363 (literal)

Pagina fine

• 367 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• II (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• IMM-CNR Catania (literal)

Titolo

• Scanning Capacitance Microscopy in Microelectronics (literal)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• FILIPPO GIANNAZZO (Persona)
• FABRIZIO ROCCAFORTE (Persona)
• VITO RAINERI (Persona)
• RAFFAELLA LO NIGRO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• FABRIZIO ROCCAFORTE (Persona)
• VITO RAINERI (Persona)
• FILIPPO GIANNAZZO (Persona)
• RAFFAELLA LO NIGRO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)