Astronomical X-ray polarimetry based on photoelectric effect with microgap detectors (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Astronomical X-ray polarimetry based on photoelectric effect with microgap detectors (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2001-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Soffitta P. 1, Costa E. 2, Di Persio G. 3, Morelli E. 4, Rubini A. 5, Bellazzini R. 6, Brez A. 7, Raffo R. 8, Spandre G. 9, Joy David 10 (2001)
    Astronomical X-ray polarimetry based on photoelectric effect with microgap detectors
    (literal)
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  • Soffitta P. 1, Costa E. 2, Di Persio G. 3, Morelli E. 4, Rubini A. 5, Bellazzini R. 6, Brez A. 7, Raffo R. 8, Spandre G. 9, Joy David 10 (literal)
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  • La rivista Nuclear Instruments and Methods in Physics Research nel 2001 aveva un Impact Factor IF=1,026 (literal)
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  • 469 (literal)
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  • Le tecniche standard per la misura della polarizzazione della radiazione X (diffrazione di Bragg e diffusione Thomson) permettono di realizzare polarimetri di sensibilita' molto limitata. Un grande balzo in avanti nella sensibilita' e' possibile invece impiegando l'effetto fotoelettrico. In questo articolo viene descritto come, per la prima volta, e' stato possibile utilizzare l'effetto fotoelettrico per realizzare uno strumento sensibile alla polarizzazione della radiazione X ben al di sotto dei 10 keV (5.4 keV e 8 keV), laddove le sorgenti X celesti sono intense e le ottiche standard per raggi X sono efficienti. Il metodo impiegato e' quello della suddivisione della carica prodotta dal fotoelettrone su piu' microstrisce con le quali e' realizzato il rivelatore unidimensionale impiegato. Gli stessi gruppi (Roma e Pisa) hanno poi realizzato un gigantesco balzo in avanti in sensibilita' realizzando rivelatori a gas bidimensionali a pixel. (literal)
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
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  • 1. CNR-IASF-Rm, 2. CNR-IASF-Rm, 3. CNR-IASF-Rm, 4. CNR-IASF-Bo, 5. CNR-IASF-Rm, 6. INFN-Pisa, 7. INFN-Pisa, 8. INFN-Pisa, 9. INFN-Pisa, 10. University of Tennessee (literal)
Titolo
  • Astronomical X-ray polarimetry based on photoelectric effect with microgap detectors (literal)
Abstract
  • The polarisation of X-ray photons can be determined by measuring the direction of emission of a K-shell photoelectron. Effective exploitation of this effect below 10keV would allow the development of a highly sensitive X-ray polarimeter dedicated in particular to X-ray astronomy observations. Only with the advent of finely segmented gas detectors it was possible to detect polarisation sensitivity based on the photoelectric effect in this energy range. Simulation and measurements at 5.4 and 8.04keV with a microgap gas counter, using both a polarised and an unpolarised X-ray source, showed that the photoelectron track in a neon-based gas mixture retains the memory of the polarisation of the incoming photons. Possible experiments aimed at galactic/extragalactic sources and solar flares are considered and their sensitivity to these sources is calculated. (literal)
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