Perovskite CaCu3Ti4O12 thin films for capacitive applications: From the growth to the nanoscopic imaging of the permittivity (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Perovskite CaCu3Ti4O12 thin films for capacitive applications: From the growth to the nanoscopic imaging of the permittivity (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1063/1.3086198 (literal)

Alternative label

• Fiorenza P, Lo Nigro R, Sciuto A, Delugas P, Raineri V, Toro RG, Catalano MR, Malandrino G (2009)
  Perovskite CaCu3Ti4O12 thin films for capacitive applications: From the growth to the nanoscopic imaging of the permittivity
  in Journal of applied physics; AIP, American institute of physics, Melville, NY (Stati Uniti d'America)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Fiorenza P, Lo Nigro R, Sciuto A, Delugas P, Raineri V, Toro RG, Catalano MR, Malandrino G (literal)

Pagina inizio

• 061634-1 (literal)

Pagina fine

• 061634-3 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 105 (literal)

Rivista

• Journal of applied physics (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 3 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• 1. CNR, IMM, I-95121 Catania, Italy 2. Univ Catania, Dipartimento Sci Chim, I-95125 Catania, Italy 3. INSTM, I-95125 Catania, Italy (literal)

Titolo

• Perovskite CaCu3Ti4O12 thin films for capacitive applications: From the growth to the nanoscopic imaging of the permittivity (literal)

Abstract

• The physical properties of CaCu3Ti4O12 (CCTO) thin films grown by metal organic chemical vapor deposition on LaAlO3 substrates have been investigated. The structural, compositional, and optical characteristics have been evaluated, and all the collected data demonstrated that in the obtained (001) epitaxial CCTO thin films, a low defect density is present. The electrical behavior of the deposited thin films has been studied from both micro- and nanoscopic points of view and compared with the properties reported in the literature. The electrical measurements on large area capacitors indicated that in the investigated work frequency range (10(2)-10(6) Hz), the CCTO films possess dielectric constants close to the theoretically predicted \"intrinsic\" value and almost independent of the frequency. The nanoscopic dielectric investigation demonstrated that the deposited CCTO films possess n-type semiconducting nature and that a colossal extrinsic behavior can be locally achieved. (literal)

Editore

• AIP, American institute of physics (Editore)

Prodotto di

• Materiali multifunzionali, e innovativi per componenti integrati (MD.P05.003.002) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• PIETRO DAVIDE DELUGAS (Unità di personale esterno)
• RAFFAELLA LO NIGRO (Unità di personale interno)
• ANTONELLA SCIUTO (Unità di personale interno)
• ROBERTA GRAZIA TORO (Unità di personale interno)
• VITO RAINERI (Persona)
• PATRICK FIORENZA (Persona)

Insieme di parole chiave

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Autore CNR di

• VITO RAINERI (Persona)
• ANTONELLA SCIUTO (Unità di personale interno)
• RAFFAELLA LO NIGRO (Unità di personale interno)
• PATRICK FIORENZA (Persona)
• PIETRO DAVIDE DELUGAS (Unità di personale esterno)
• ROBERTA GRAZIA TORO (Unità di personale interno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Materiali multifunzionali, e innovativi per componenti integrati (MD.P05.003.002) (Modulo)

Editore di

• AIP, American institute of physics (Editore)

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• Journal of applied physics (Rivista)

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• Parole chiave di "Perovskite CaCu3Ti4O12 thin films for capacitive applications: From the growth to the nanoscopic imaging of the permittivity" (Insieme di parole chiave)