Investigation of dopant profiles in nanosized materials by scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Investigation of dopant profiles in nanosized materials by scanning transmission electron microscopy (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1393/ncc/i2005-10014-8 (literal)

Alternative label

• P. G. Merli, V. Morandi, A. Migliori, C. Baratto, E. Comini, G. Faglia, M.Ferroni, A. Ponzoni, N. Poli and G. Sberveglieri (2004)
  Investigation of dopant profiles in nanosized materials by scanning transmission electron microscopy
  in Il Nuovo cimento C (Online); Società Italiana di Fisica, Bologna (Italia)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• P. G. Merli, V. Morandi, A. Migliori, C. Baratto, E. Comini, G. Faglia, M.Ferroni, A. Ponzoni, N. Poli and G. Sberveglieri (literal)

Pagina inizio

• 467 (literal)

Pagina fine

• 472 (literal)

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• 27 (literal)

Rivista

• ?Il ?Nuovo cimento C (Rivista)

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• 6 (literal)

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• 5 (literal)

Note

• Google Scholar (literal)
• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• CNR IMM Sezione di Bologna, Area Ricerca Bologna - Via Gobetti 101 I-40126 Bologna, Italy INFM Sensor Lab. - Dipartimento di Chimica e Fisica per l'Ingegneria e per i Materiali dell'Universita' di Brescia - Via Valotti 9, 25133 Brescia, Italy (literal)

Titolo

• Investigation of dopant profiles in nanosized materials by scanning transmission electron microscopy (literal)

Abstract

• Scanning electron microscopy is capable to provide chemical information on specimens interesting for the field of materials science and nanotechnology. The spatial resolution and the chemical information provided by incoherent imaging and detection of transmitted, forward-scattered electrons can reveal useful information about the specimen composition and microstructure. This paper discusses the capability and potential of low-voltage Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) for the characterization of multilayered structures and dopant profiles in crystalline materials. (literal)

Editore

• Società Italiana di Fisica (Editore)

Prodotto di

• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• CAMILLA BARATTO (Unità di personale interno)
• ANDREA PONZONI (Unità di personale interno)
• PIER GIORGIO MERLI (Persona)
• ANDREA MIGLIORI (Persona)
• VITTORIO MORANDI (Persona)

Incoming links:

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di Modelli Fisici, Simulazioni e Tecniche di Caratterizzazione per le Nanoscienze (MD.P05.004.001) (Modulo)

Autore CNR di

• ANDREA MIGLIORI (Persona)
• VITTORIO MORANDI (Persona)
• PIER GIORGIO MERLI (Persona)
• CAMILLA BARATTO (Unità di personale interno)
• ANDREA PONZONI (Unità di personale interno)

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• ?Il ?Nuovo cimento C (Rivista)

Editore di

• Società Italiana di Fisica (Editore)