http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID35380
A simple route to the synthesis of Pr2O3 high-k thin films (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- A simple route to the synthesis of Pr2O3 high-k thin films (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1002/adma.200304806 (literal)
- Alternative label
Lo Nigro R., Toro R.G., Malandrino G., Raineri V., Fragala I.L. (2003)
A simple route to the synthesis of Pr2O3 high-k thin films
in Advanced materials (Weinh., Print); Wiley-VCH - Weinheim, Wheinheim (Germania)
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Lo Nigro R., Toro R.G., Malandrino G., Raineri V., Fragala I.L. (literal)
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- Pagina fine
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- Si tratta di un lavoro molto importante nel campo della ricerca di materiali high-k alternativi all'ossido di afnio per applicazioni nella tecnologia CMOS oltre il nodo tecnologico da 65 nm. (literal)
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- Rivista
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- Impatc Factor (2002): 6.801 (literal)
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- Si tratta di un lavoro nel quale si dimostra la possibilità di preparare film sottili high-k di Pr2O3 di alta qualità e con proprietà elettriche molto promettenti. I film sono stati preparati mediante deposizione chimica metallo-organica su substrati Si(100). Il fattore più critico per la formazione riproducibile e selettiva di film di Pr2O3 è rappresentato dalla pressione parziale di ossigeno nella camera di reazione. Analisi X-ray e in diffrazione elettronica mostrano che lo strato di ossido cresce con una struttura esagonale random. (literal)
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
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- IMM-CNR Sezione di Catania,
Dipartimento di Chimica Università di Catania (literal)
- Titolo
- A simple route to the synthesis of Pr2O3 high-k thin films (literal)
- Abstract
- High-quality Pr2O3 high-k thin films with very promising electrical properties have been prepared by metal-organic chemical vapor deposition on Si(100) substrates. The most critical factor for selective and reproducible Pr2O3 film formation is the oxygen partial pressure in the reaction chamber. X-ray and transmission electron microscopy diffraction patterns show that the oxide layer grows with a hexagonal random structure. (literal)
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