http://www.cnr.it/ontology/cnr/individuo/prodotto/ID32834
Characterization of Bulk and Surface Transport Mechanisms by Means of the Photocurrent Technique (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Characterization of Bulk and Surface Transport Mechanisms by Means of the Photocurrent Technique (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2009-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1109/TNS.2009.2032098 (literal)
- Alternative label
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Zanichelli M.; Pavesi M.; Zappettini A.; Marchini L.; Auricchio N.; Caroli E.; Manfredi M. (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
- Rivista
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note
- In: Ieee Transactions on Nuclear Science, vol. 56 (6) pp. 3591 - 3596. IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 2009. (literal)
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- CNR-IMEM, Parco Area delle Scienze 17/A, 43100 Parma,
Dipartimento di Fisica, Università di Parma,
INAF/IASF-BO, Via Gobetti 101, 40129 Bologna (literal)
- Titolo
- Characterization of Bulk and Surface Transport Mechanisms by Means of the Photocurrent Technique (literal)
- Abstract
- The transport properties of ternary alloys, as CdZnTe, affect heavily the features required in X and Gamma spectroscopic detectors. The density and the nature of bulk defects and the lacking quality of contacts, characterized by high recombination center densities near the surface, damage strongly the quality of these materials. (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
- Insieme di parole chiave
Incoming links:
- Prodotto
- Autore CNR di
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi
- Insieme di parole chiave di