Misura dello spessore e dell'indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d'onda (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Misura dello spessore e dell'indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d'onda (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Maddaloni P., Ferraro P., De Natale P., Coppola G., Gioffre M., Iodice M., De Nicola S. (2004)
    Misura dello spessore e dell'indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d'onda
    in Elettroottica 2004: 8. Convegno Nazionale "Strumentazione e Metodi di Misura Elettroottici", Pavia
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Maddaloni P., Ferraro P., De Natale P., Coppola G., Gioffre M., Iodice M., De Nicola S. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy; Istituto per la Microelettronica e i Microsistemi - CNR, Via Pietro Castellino 111, 80131, Napoli, Italy; Istituto di Cibernetica \"E. Caianiello\" del CNR, Via Campi Flegrei 34, 80078 Pozzuoli (NA), Italy (literal)
Titolo
  • Misura dello spessore e dell'indice di rifrazione di lamine trasparenti sottili mediante interferometro a spostamento laterale a scansione di lunghezza d'onda (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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