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Magnetic penetration depth measurements in mgb2 sintered pellets and thin films (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Magnetic penetration depth measurements in mgb2 sintered pellets and thin films (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1103/PhysRevB.65.020506 (literal)
- Alternative label
Lamura G., Di Gennaro E., Salluzzo M., Andreone A., Le Cochec J., Gauzzi A., Cantoni C., Paranthaman M., Christen D.K., Christen H.M., Giunchi G., Ceresara S. (2002)
Magnetic penetration depth measurements in mgb2 sintered pellets and thin films
in Physical review. B, Rapid communications (online); The American Physical Society, College Park, MD 20740-3844 (Stati Uniti d'America)
(literal)
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- Lamura G., Di Gennaro E., Salluzzo M., Andreone A., Le Cochec J., Gauzzi A., Cantoni C., Paranthaman M., Christen D.K., Christen H.M., Giunchi G., Ceresara S. (literal)
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- Pagina fine
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- Rivista
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- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
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- G. Lamura, E. Di Gennaro, M. Salluzzo, and A. Andreone
I.N.F.M. and Dipartimento Scienze Fisiche, Universita` di Napoli Federico II, I-80125, Napoli, Italy
J. Le Cochec
Laboratoire Pierre Su¨e, DRECAM, CEA-Saclay, 91191 Gif sur Yvette, France
A. Gauzzi
MASPEC-CNR Institute, Area delle Scienze, I-43010 Parma-Fontanini, Italy
C. Cantoni, M. Paranthaman, D. K. Christen, and H. M. Christen
Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, Tennessee 37831-6100
G. Giunchi and S. Ceresara
Edison S.p.A., Foro Buonaparte 31, I-20121 Milano, Italy (literal)
- Titolo
- Magnetic penetration depth measurements in mgb2 sintered pellets and thin films (literal)
- Abstract
- We have performed accurate measurements of the temperature dependence of the magnetic penetration depth of the new intermetallic superconductor MgB2 using a high resolution single coil mutual inductance technique. Both sintered pellets and thin films exhibiting critical temperature values ranging between 37 and 38.4 K have been studied. In the case of the film, for T
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