Microscopy study of conductive filament in HfO2 resistive switching memory devices (Comunicazione a convegno)

Type
Label
  • Microscopy study of conductive filament in HfO2 resistive switching memory devices (Comunicazione a convegno) (literal)
Anno
  • 2013-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • S. Privitera, G. Bersuker, B. Butcher, A. Kalantarian, S. Lombardo, C. Bongiorno, R. Geer, Y. Nishi, D.C. Gilmer, P.D. Kirsch (2013)
    Microscopy study of conductive filament in HfO2 resistive switching memory devices
    in INFOS, Cracovia, Polonia, 25-28 giugno 2013
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • S. Privitera, G. Bersuker, B. Butcher, A. Kalantarian, S. Lombardo, C. Bongiorno, R. Geer, Y. Nishi, D.C. Gilmer, P.D. Kirsch (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • IMM-CNR Sematech, Albany USA College of Nanoscale Science and Engineering, USA Stanford University, USA (literal)
Titolo
  • Microscopy study of conductive filament in HfO2 resistive switching memory devices (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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