Closed-form solution of the steady-state photon diffusion equation in the èpresence of absorbing inclusions (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Closed-form solution of the steady-state photon diffusion equation in the èpresence of absorbing inclusions (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2014-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1364/OL.39.000826 (literal)
Alternative label
  • Rosario Esposito, Fabrizio Martelli, Sergio De Nicola (2014)
    Closed-form solution of the steady-state photon diffusion equation in the èpresence of absorbing inclusions
    in Optics letters (Online)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Rosario Esposito, Fabrizio Martelli, Sergio De Nicola (literal)
Pagina inizio
  • 826 (literal)
Pagina fine
  • 828 (literal)
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  • http://dx.doi.org/10.1364/OL.39.000826 (literal)
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  • 39 (literal)
Rivista
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  • 3 (literal)
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  • 4 (literal)
Note
  • Scopu (literal)
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  • Dipartimento di Ingegneria Chimica, dei Materiali e della Produzione Industriale, Universitá di Napoli 'Federico II', p.le V. Tecchio 80, 80125 Napoli, Italy Dipartimento di Fisica e Astronomia dell'Universitá degli Studi di Firenze, Via G. Sansone 1, 50019 Sesto Fiorentino, Firenze, Italy CNR-SPIN Napoli, Complesso Universitario di Monte Sant'Angelo, via Cinthia, 80126 Napoli, Italy (literal)
Titolo
  • Closed-form solution of the steady-state photon diffusion equation in the èpresence of absorbing inclusions (literal)
Abstract
  • We have developed a theoretical model for photon migration through scattering media in the presence of an absorbing inhomogeneity. A closed-form solution for the average diffuse intensity has been obtained through an iterative approximation scheme of the steady-state diffusion equation. The model describes absorbing defects in a wide range of values. Comparisons with the results of Monte Carlo simulations show that the error of the model is lower than 3% for size inclusion lower than 4 mm and absorption contrast up to the threshold value of the \"black defect.\" The proposed model provides a tractable mathematical basis for diffuse optical and photoacoustic tomographic reconstruction techniques (literal)
Prodotto di
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