Quantification of H, B, in Kornerupine: accurancy of SIMS and SREF (X-ray single-crystal structure-refinement) data. (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Quantification of H, B, in Kornerupine: accurancy of SIMS and SREF (X-ray single-crystal structure-refinement) data. (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Ottolini L., Camara F., Hawthorne F.C. (2002)
  Quantification of H, B, in Kornerupine: accurancy of SIMS and SREF (X-ray single-crystal structure-refinement) data.
  in Mikrochimica acta (1966, Print)
  (literal)

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• Ottolini L., Camara F., Hawthorne F.C. (literal)

Pagina inizio

• 125 (literal)

Pagina fine

• 129 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 139 (literal)

Rivista

• Mikrochimica acta (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• Quantification of H, B, in Kornerupine: accurancy of SIMS and SREF (X-ray single-crystal structure-refinement) data. (literal)

Prodotto di

• Istituto di geoscienze e georisorse (IGG) (Istituto)

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Prodotto

• Istituto di geoscienze e georisorse (IGG) (Istituto)

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• Mikrochimica acta (Rivista)