Analytical Expression for the Imaginary Part of the Dielectric Constant of Microcrystalline Silicon (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Analytical Expression for the Imaginary Part of the Dielectric Constant of Microcrystalline Silicon (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2013-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.12966/ram.05.02.2013 (literal)

Alternative label

• C. Summonte, M. Allegrezza, M. Canino, M Bellettato and A. Desalvo (2013)
  Analytical Expression for the Imaginary Part of the Dielectric Constant of Microcrystalline Silicon
  in Research and Application of Material; Shiknow Publications Ltd, NEW YORK, NY 10003 USA (Stati Uniti d'America)
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• C. Summonte, M. Allegrezza, M. Canino, M Bellettato and A. Desalvo (literal)

Pagina inizio

• 6 (literal)

Pagina fine

• 11 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#url

• http://manuscript.sciknow.org/uploads/ram/pub/ram_1364211543.pdf (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 1 (literal)

Rivista

• Research and Application of Material (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 6 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 1 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IMM Bologna (literal)

Titolo

• Analytical Expression for the Imaginary Part of the Dielectric Constant of Microcrystalline Silicon (literal)

Abstract

• Abstract - An analytical function for the imaginary part of the dielectic constant of microcrystalline silicon is proposed. The function consists of a sum of Lorentz oscillators with Gaussian broadening, and is based on literature data. The real part is numerically obtained by Kramers-Kronig integration. The physical significance of the results is discussed. It is shown that the choice of the minimization procedure may affect the spectral region (low or high absorption) where the accuracy of the fit is optimized. The impact on computed Transmittance data shows the limits of acceptability for the errors in the fit. (literal)

Editore

• Shiknow Publications Ltd (Editore)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di tecnologie e realizzazione di dispositivi e microsistemi fotonici, fluidici e meccanici (MD.P05.011.001) (Modulo)

Autore CNR

• AGOSTINO DESALVO (Persona)
• MARCO ALLEGREZZA (Persona)
• CATERINA SUMMONTE (Persona)
• michele bellettato (Unità di personale esterno)
• MARIACONCETTA CANINO (Unità di personale interno)

Incoming links:

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di tecnologie e realizzazione di dispositivi e microsistemi fotonici, fluidici e meccanici (MD.P05.011.001) (Modulo)

Autore CNR di

• CATERINA SUMMONTE (Persona)
• michele bellettato (Unità di personale esterno)
• AGOSTINO DESALVO (Persona)
• MARCO ALLEGREZZA (Persona)
• MARIACONCETTA CANINO (Unità di personale interno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Research and Application of Material (Rivista)

Editore di

• Shiknow Publications Ltd (Editore)