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Semi-quantitative analysis of glassy samples by Secondary Ion Mass Spectrometry (Abstract/Poster in convegno)
- Type
- Label
- Semi-quantitative analysis of glassy samples by Secondary Ion Mass Spectrometry (Abstract/Poster in convegno) (literal)
- Anno
- 1999-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
C. Piccirillo, S. Daolio, C. Pagura, M. Fabrizio, S. Zecchin, S. Barison, M. Verità (1999)
Semi-quantitative analysis of glassy samples by Secondary Ion Mass Spectrometry
in 17th Informal Meeting on Mass Spectrometry, Fiera di Primiero (TN), 23-27 Maggio 1999
(literal)
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- C. Piccirillo, S. Daolio, C. Pagura, M. Fabrizio, S. Zecchin, S. Barison, M. Verità (literal)
- Pagina inizio
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- Atti del congresso (literal)
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- Note
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- CNR IPELP - Corso Stati Uniti, 4 - 35127 PADOVA (literal)
- Titolo
- Semi-quantitative analysis of glassy samples by Secondary Ion Mass Spectrometry (literal)
- Prodotto di
- Autore CNR
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