Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Schmuck S., Svensson J., de la Luna E., Figini L., Johnson T., Alper B., Beurskens M., Fessey J., Gerbaud T., Sirinelli A. and JET EFDA Contributors (2011)
    Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics
    in 38th EPS Conference on Plasma Physics, Strasbourg, June 2011
    (literal)
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  • Schmuck S., Svensson J., de la Luna E., Figini L., Johnson T., Alper B., Beurskens M., Fessey J., Gerbaud T., Sirinelli A. and JET EFDA Contributors (literal)
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  • Articolo numero P5.046 (literal)
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  • http://ocs.ciemat.es/EPS2011PAP/pdf/P5.046.pdf (literal)
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  • 38th EPS Conference on Plasma Physics, 27 June - 1 July 2011 (literal)
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  • 35G (literal)
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  • Istituto di Fisica del Plasma, CNR Milano, ed altri istituti di ricerca (literal)
Titolo
  • Bayesian derivation of electron temperature profile using JET ECE diagnostics (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
  • 2-914771-68-1 (literal)
Prodotto di
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