Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling (Contributo in atti di convegno)

Type

• Contributo in atti di convegno (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Romolo Marcelli, Gianluca Minucci, Simone Catoni, Benno Margesin, Flavio Giacomozzi, Giovanni Mannocchi, Francesco Vitulli (2004)
  Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling
  in 5th Workshop on MEMS for Millimeter Wave Communications, MEMSWAVE 2004, Uppsala, Sweden, 30th June - 2nd July 2004
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Romolo Marcelli, Gianluca Minucci, Simone Catoni, Benno Margesin, Flavio Giacomozzi, Giovanni Mannocchi, Francesco Vitulli (literal)

Pagina inizio

• 10 (literal)

Pagina fine

• 13 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• Proceedings of the 5th Workshop on MEMS for Millimeter Wave Communications, MEMSWAVE 2004 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 4 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• CNR-IMM Roma FBK-irst, Trento TAS-I, Roma (literal)

Titolo

• Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autoriVolume

• AA.VV. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume

• Editor: Anders Rydberg (literal)

Abstract

• Abstract--Single Pole Single Through (SPST) series micromachined switches have been characterized to check their reliability under low (3 dBm) and medium (23 dBm) power cycling. Negligible changes of the electrical performances have been recorded in low power regime, while failure or decrease of the elctrical response is obtained for the medium power test around 10^5 cycles. Continuous medium power injection does not result in any failure for the optimized switch configuration (literal)

Editore

• Universitetstryckeriet Uppsala (Editore)

Prodotto di

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)

Autore CNR

• SIMONE CATONI (Unità di personale esterno)
• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• GIANLUCA MINUCCI (Unità di personale esterno)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Autore CNR di

• ROMOLO MARCELLI (Persona)
• SIMONE CATONI (Unità di personale esterno)
• GIANLUCA MINUCCI (Unità di personale esterno)

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Microsistemi ad Alta Frequenza: Tecnologie ed Affidabilità per Applicazioni di Terra e Spaziali (MD.P05.020.001) (Modulo)

Editore di

• Universitetstryckeriet Uppsala (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling" (Insieme di parole chiave)