Determination of the Thickness of Coatings by means of a New XRF Spectrometer (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Determination of the Thickness of Coatings by means of a New XRF Spectrometer (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Fiorini C., Gianoncelli A., Longoni A., Zaraga F. (2002)
  Determination of the Thickness of Coatings by means of a New XRF Spectrometer
  in X-Ray Spectrometry
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Fiorini C., Gianoncelli A., Longoni A., Zaraga F. (literal)

Pagina inizio

• 92 (literal)

Pagina fine

• 99 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 31-1 (literal)

Rivista

• X-Ray Spectrometry (Rivista)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• Determination of the Thickness of Coatings by means of a New XRF Spectrometer (literal)

Prodotto di

• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto di fotonica e nanotecnologie (IFN) (Istituto)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• X-Ray Spectrometry (Rivista)