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Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling (Contributo in volume (capitolo o saggio))
- Type
- Label
- Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)
- Anno
- 2005-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
Romolo Marcelli, Gianluca Minucci, Simone Catoni, Benno Margesin, Flavio Giacomozzi, Giovanni Mannocchi, Francesco Vitulli (2005)
Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling
Editura Academiei Române, Bucuresti (Romania) in Advanced MEMS for RF and Millimeter Wave Communications, 2005
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- Romolo Marcelli, Gianluca Minucci, Simone Catoni, Benno Margesin, Flavio Giacomozzi, Giovanni Mannocchi, Francesco Vitulli (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- http://www.nano-link.net/mne/index.htm (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
- Advanced MEMS for RF and Millimeter Wave Communications (literal)
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- CNR-IMM UOS Roma
FBK-irst, Trento
Thales Alenia Space Italia (literal)
- Titolo
- Reliability of RF-MEMS Series Switches under Low and Medium Power Cycling (literal)
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- A. Müller, A. Rydberg, and R. Plana (literal)
- Abstract
- Single Pole Single Through (SPST) series micromachined switches have been characterized to check their reliability under low (< 3dBm) and medium (23 dBm) power cycling. (literal)
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