Does interferometer monitor thickness or optical-path variations? (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Does interferometer monitor thickness or optical-path variations? (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 1998-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1119/1.880036 (literal)
Alternative label
  • Pietro Ferraro (1998)
    Does interferometer monitor thickness or optical-path variations?
    in The Physics teacher
    (literal)
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  • Pietro Ferraro (literal)
Pagina inizio
  • 4 (literal)
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  • http://dx.doi.org/10.1119/1.880036 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 36 (literal)
Rivista
Note
  • The Smithsonian/NASA Astrophysics Data System (literal)
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  • CNR; IPSIA (literal)
Titolo
  • Does interferometer monitor thickness or optical-path variations? (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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