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Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 1991-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1016/0921-5107(91)90061-Y (literal)
- Alternative label
G.C. Righini, G.P. Banfi, V. Degiorgio, F. Nicoletti, S. Pelli (1991)
Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization
in Materials Science and Engineering B; Elsevier, Amsterdam (Paesi Bassi)
(literal)
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- G.C. Righini, G.P. Banfi, V. Degiorgio, F. Nicoletti, S. Pelli (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/092151079190061Y# (literal)
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- Rivista
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- Note
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- Istituto di Ricerca sulle Onde Elettromagnetiche (IROE-CNR), Via Panciatichi 64, 50127 Firenze, Italy
Dip. Elettronica, Università di Pavia, 27100 Pavia, Italy
Stazione Sperimentale del Vetro, 30121 Murano, Venezia, Italy
Istituto di Ricerca sulle Onde Elettromagnetiche (IROE-CNR), Via Panciatichi 64, 50127 Firenze, Italy (literal)
- Titolo
- Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization (literal)
- Abstract
- Semiconductor-doped glasses were investigated by structural analysis and waveguide characterization techniques. Small-angle neutron scattering allowed precise determination of the average size of the microcrystallites; it showed the existence of a volume depleted of semiconductor constituents which surrounds each particle. Waveguides were and non-linear measurements were taken. (literal)
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