Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 1991-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1016/0921-5107(91)90061-Y (literal)
Alternative label
  • G.C. Righini, G.P. Banfi, V. Degiorgio, F. Nicoletti, S. Pelli (1991)
    Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization
    in Materials Science and Engineering B; Elsevier, Amsterdam (Paesi Bassi)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • G.C. Righini, G.P. Banfi, V. Degiorgio, F. Nicoletti, S. Pelli (literal)
Pagina inizio
  • 397 (literal)
Pagina fine
  • 403 (literal)
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  • http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/092151079190061Y# (literal)
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  • 9 (literal)
Rivista
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  • 7 (literal)
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  • 4 (literal)
Note
  • Scopus (literal)
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  • Istituto di Ricerca sulle Onde Elettromagnetiche (IROE-CNR), Via Panciatichi 64, 50127 Firenze, Italy Dip. Elettronica, Università di Pavia, 27100 Pavia, Italy Stazione Sperimentale del Vetro, 30121 Murano, Venezia, Italy Istituto di Ricerca sulle Onde Elettromagnetiche (IROE-CNR), Via Panciatichi 64, 50127 Firenze, Italy (literal)
Titolo
  • Semiconductor doped glasses: structural and waveguide characterization (literal)
Abstract
  • Semiconductor-doped glasses were investigated by structural analysis and waveguide characterization techniques. Small-angle neutron scattering allowed precise determination of the average size of the microcrystallites; it showed the existence of a volume depleted of semiconductor constituents which surrounds each particle. Waveguides were and non-linear measurements were taken. (literal)
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