Assessment of Semiconductors by Scanning Electron Microscopy Techniques (Contributo in volume (capitolo o saggio))

Type
Label
  • Assessment of Semiconductors by Scanning Electron Microscopy Techniques (Contributo in volume (capitolo o saggio)) (literal)
Anno
  • 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Salviati G, Lazzarini L, Sekiguchi T, Chen B (2011)
    Assessment of Semiconductors by Scanning Electron Microscopy Techniques
    Elsevier, Amsterdam (Paesi Bassi) in Comprehensive Semiconductor Science and Technology, 2011
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Salviati G, Lazzarini L, Sekiguchi T, Chen B (literal)
Pagina inizio
  • 308 (literal)
Pagina fine
  • 356 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume
  • Comprehensive Semiconductor Science and Technology (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana
  • 4 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • IMEM-CNR, Parma; NIMS, Tsukuba, JP (literal)
Titolo
  • Assessment of Semiconductors by Scanning Electron Microscopy Techniques (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#isbn
  • 9780444531438 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#curatoriVolume
  • Bhattacharya, Fornari and Kamimura (literal)
Editore
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