Chemical vapor deposition of ZrO2 thin films from zirconium precursors containing N-ligands (Contributo in atti di convegno)

Type
Label
  • Chemical vapor deposition of ZrO2 thin films from zirconium precursors containing N-ligands (Contributo in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 1995-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Bastianini A.; Battiston G.A.; Gerbasi R. ; Filippino L. ; Porchia M. ; Rizzo L. (1995)
    Chemical vapor deposition of ZrO2 thin films from zirconium precursors containing N-ligands
    in Syntheses and Methodologies in Inorganic Chemistry, New Compounds and Materials, Bressanone, 2-7 ottobre 1994
    (literal)
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  • Bastianini A.; Battiston G.A.; Gerbasi R. ; Filippino L. ; Porchia M. ; Rizzo L. (literal)
Pagina inizio
  • 503 (literal)
Pagina fine
  • 508 (literal)
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  • Syntheses and Methodologies in Inorganic Chemistry, New Compounds and Materials (literal)
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  • 5 (literal)
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  • 6 (literal)
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  • Istituto di Chimica e Tecnologie Inorganiche e dei Materiali Avanzati CNR Area della Ricerca, Corso Stati Uniti 4 - 35127 Padova (literal)
Titolo
  • Chemical vapor deposition of ZrO2 thin films from zirconium precursors containing N-ligands (literal)
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  • S. Daolio; E. Tondello; P.A. Vigato (literal)
Abstract
  • Excellent quality ZrO2 thin films were deposited on alumina and glass substrates by chemical vapor deposition in a hot wall reactor at reduced pressure using tetrakis(diethylamido)zirconium [Zr(NEt2)4] as precursor. The depositions carried out at 550°C and 1.5Torr in the presence of oxygen (O2 flow rate 20sccm, N2 carrier gas 150sccm, dilute N2 gas 30sccm) led to a growth rate of 4mm/h. As-grown, the films are colourless, smooth and well-adherent to the substrate. SIMS analysis evidenced pure ZrO2 with a slight superficial carbon contamination. The films have a tapered polycrystalline columnar structure well visible in SEM micrographs. (literal)
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