Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX) (Curatela)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Curatela (Classe)

Label

• Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX) (Curatela) (literal)

Anno

• 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• C. Frigeri (2002)
  Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX)
  in Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology; ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS, AMSTERDAM (Paesi Bassi)
  (literal)

Pagina inizio

• 1 (literal)

Pagina fine

• 559 (literal)

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• Special Issue: Containing papers presented at the Ninth International Conference on Defects - Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (9th) (DRIP IX) - Rimini, 24-28 Sep. 2001, (literal)

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• http://www.elsevier.com/locate/contetsdirect (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 91-92 (literal)

Rivista

• Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology (Rivista)

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• C. Frigeri (literal)

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• 559 (literal)

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• CNR-MASPEC Institute, Fontanini, Parco Area delle Scienze 37/A, 43010 Parma, Italy (literal)

Titolo

• Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX) (literal)

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• Periodico (literal)

Editore

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Autore CNR

• CESARE FRIGERI (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX)" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Autore CNR di

• CESARE FRIGERI (Persona)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology (Rivista)

Editore di

• ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS (Editore)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Proceedings of the Ninth International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP IX)" (Insieme di parole chiave)