Assessment of NSOM resolution on III-V semiconductor thin films (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Assessment of NSOM resolution on III-V semiconductor thin films (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 1998-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Labardi, M.; Gucciardi, P. G.; Allegrini, M.; Pelosi, C. (1998)
    Assessment of NSOM resolution on III-V semiconductor thin films
    in Applied physics. A, Materials science & processing (Print)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Labardi, M.; Gucciardi, P. G.; Allegrini, M.; Pelosi, C. (literal)
Pagina inizio
  • S397 (literal)
Pagina fine
  • S402 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 66 (literal)
Rivista
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • Univ Pisa, Ist Nazl Fis Mat, Dipartimento Fis, I-56126 Pisa, Italy Scuola Normale Super Pisa, I-56126 Pisa, Italy Univ Messina, Dipartimento Fis Mat & Tecnol Fis Avanzate, I-98166 Messina, Italy CNR, MASPEC, I-43100 Parma, Italy (literal)
Titolo
  • Assessment of NSOM resolution on III-V semiconductor thin films (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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