Surface corrugation and stacking misorientation in multilayers of graphene on Nickel (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Surface corrugation and stacking misorientation in multilayers of graphene on Nickel (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2011-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.4028/www.scientific.net/SSP.178-179.125 (literal)

Alternative label

• V. Raineri. C. Bongiorno, S. Di Franco, R. Lo Nigro, E. Rimini, F. Giannazzo (2011)
  Surface corrugation and stacking misorientation in multilayers of graphene on Nickel
  in Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• V. Raineri. C. Bongiorno, S. Di Franco, R. Lo Nigro, E. Rimini, F. Giannazzo (literal)

Pagina inizio

• 125 (literal)

Pagina fine

• 129 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 178-179 (literal)

Rivista

• Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali

• 5 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Istituto per la Microelettronica e Microsistemi- CNR Dipartimento di Scienze Fisiche, Università Di Catania (literal)

Titolo

• Surface corrugation and stacking misorientation in multilayers of graphene on Nickel (literal)

Abstract

• Abstract: Graphene films were grown on thin polycrystalline Ni using a buried amorphous carbon (a-C) layer as C source. Rapid thermal processes (RTP) at temperatures from 600 to 800 degrees C were used to promote C diffusion into Ni and its subsequent segregation on Ni surface, during the sample cool down. RIP at 800 degrees C was the optimal condition for graphene film formation. Micro-Raman spectroscopy showed that the grown film is mostly composed by multilayers of graphene. Atomic force microscopy showed that the film presents peculiar corrugations (wrinkles), isotropically oriented and with heights ranging from from similar to 1 to similar to 15 nm. Selected area diffraction by transmission electron microscopy on the MLG membranes shows a rotational disorder between the stacked graphene layers. (literal)

Prodotto di

• Materiali multifunzionali, e innovativi per componenti integrati (MD.P05.003.002) (Modulo)
• Sviluppo di tecnologie per una elettronica integrata a base di SiC (MD.P05.003.003) (Modulo)
• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)

Autore CNR

• SALVATORE DI FRANCO (Unità di personale interno)
• FILIPPO GIANNAZZO (Persona)
• CORRADO BONGIORNO (Unità di personale interno)
• RAFFAELLA LO NIGRO (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Surface corrugation and stacking misorientation in multilayers of graphene on Nickel" (Insieme di parole chiave)

Incoming links:

Prodotto

• Institute for microelectronics and microsystems (IMM) (Istituto)
• Sviluppo di tecnologie per una elettronica integrata a base di SiC (MD.P05.003.003) (Modulo)
• Materiali multifunzionali, e innovativi per componenti integrati (MD.P05.003.002) (Modulo)

Autore CNR di

• FILIPPO GIANNAZZO (Persona)
• RAFFAELLA LO NIGRO (Unità di personale interno)
• CORRADO BONGIORNO (Unità di personale interno)
• SALVATORE DI FRANCO (Unità di personale interno)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Parole chiave di "Surface corrugation and stacking misorientation in multilayers of graphene on Nickel" (Insieme di parole chiave)