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X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX) (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX) (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 1989-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1116/1.576314 (literal)
- Alternative label
G.M. INGO, N. ZACCHETTI, D. DELLA SALA, C. COLUZZA (1989)
X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX)
in Journal of vacuum science & technology. A. Vacuum, surfaces, and films
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- G.M. INGO, N. ZACCHETTI, D. DELLA SALA, C. COLUZZA (literal)
- Pagina inizio
- Pagina fine
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- Rivista
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- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
- G.M. INGO [1,2], N. ZACCHETTI [1], D. DELLA SALA [2], C. COLUZZA [3]
[1] CENTRO SVILUPPO MATERIALI, I-10747 ROME, ITALY - CNR Istituto Teoria e Struttura Elettronica, 00016 Monterotondo Rome, Italy.
[2] ENIRICERCHE SPA,I-00015 ROME, ITALY
[3] UNIVERSITA' LA SAPIENZA, DIPARTIMENTO FISICA,I-00185 ROME, ITALY (literal)
- Titolo
- X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX) (literal)
- Abstract
- Amorphous silicon nitride a-SiNx (0
- Prodotto di
- Autore CNR
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