X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX) (Articolo in rivista)

Type
Label
  • X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX) (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 1989-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
  • 10.1116/1.576314 (literal)
Alternative label
  • G.M. INGO, N. ZACCHETTI, D. DELLA SALA, C. COLUZZA (1989)
    X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX)
    in Journal of vacuum science & technology. A. Vacuum, surfaces, and films
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • G.M. INGO, N. ZACCHETTI, D. DELLA SALA, C. COLUZZA (literal)
Pagina inizio
  • 3048 (literal)
Pagina fine
  • 3055 (literal)
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  • 7 (literal)
Rivista
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#pagineTotali
  • 8 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo
  • 5 (literal)
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • G.M. INGO [1,2], N. ZACCHETTI [1], D. DELLA SALA [2], C. COLUZZA [3] [1] CENTRO SVILUPPO MATERIALI, I-10747 ROME, ITALY - CNR Istituto Teoria e Struttura Elettronica, 00016 Monterotondo Rome, Italy. [2] ENIRICERCHE SPA,I-00015 ROME, ITALY [3] UNIVERSITA' LA SAPIENZA, DIPARTIMENTO FISICA,I-00185 ROME, ITALY (literal)
Titolo
  • X-RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY INVESTIGATION ON THE CHEMICAL-STRUCTURE OF AMORPHOUS-SILICON NITRIDE (a-SINX) (literal)
Abstract
  • Amorphous silicon nitride a-SiNx (0
Prodotto di
Autore CNR
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