Elastic stress relaxation in hrem specimens of strained semiconductor heterostructures (Contributo in atti di convegno)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Contributo in atti di convegno (Classe)

Label

• Elastic stress relaxation in hrem specimens of strained semiconductor heterostructures (Contributo in atti di convegno) (literal)

Anno

• 1995-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• L. De Caro, A. Giuffrida, E Carlino, L Tapfer (1995)
  Elastic stress relaxation in hrem specimens of strained semiconductor heterostructures
  in XX congress of Italian Microscopy Society, Rimini (I), September 11-14 1995
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• L. De Caro, A. Giuffrida, E Carlino, L Tapfer (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#titoloVolume

• proc. of the XX congress of Italian Microscopy Society (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• PASTIS-Centro Nazionale Ricerca e Sviluppo Materiali (PASTIS-CNRSM), S.S. 7 Appia km. 712, I-72100 Brindisi, Italy lstituto Nuovi Materiali per l'Elettronica (CNR-IME), c/o Universit?t degli Studi di Lecce, via Arnesano, 1-73100 Lecce, Italy. (literal)

Titolo

• Elastic stress relaxation in hrem specimens of strained semiconductor heterostructures (literal)

Prodotto di

• Istituto di cristallografia (IC) (Istituto)

Autore CNR

• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)
• LIBERATO DE CARO (Persona)

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Prodotto

• Istituto di cristallografia (IC) (Istituto)

Autore CNR di

• LIBERATO DE CARO (Persona)
• ELVIO CARLINO (Unità di personale interno)