Interplay between spontaneous in-plane long range order and vertical correlation length in sputtered Co/Cu multilayers (Articolo in rivista)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Articolo in rivista (Classe)

Label

• Interplay between spontaneous in-plane long range order and vertical correlation length in sputtered Co/Cu multilayers (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2012-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1016/j.tsf.2012.04.080 (literal)

Alternative label

• F. Spizzo, C. Ferrero, F. Albertini, F. Casoli (2012)
  Interplay between spontaneous in-plane long range order and vertical correlation length in sputtered Co/Cu multilayers
  in Thin solid films (Print); ELSEVIER SCIENCE SA, PO BOX 564, 1001 LAUSANNE (Svizzera)
  (literal)

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• F. Spizzo, C. Ferrero, F. Albertini, F. Casoli (literal)

Pagina inizio

• 5504 (literal)

Pagina fine

• 5507 (literal)

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• http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S004060901200541X (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 520 (literal)

Rivista

• Thin solid films (Rivista)

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• 4 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 17 (literal)

Note

• Scopu (literal)
• ISI Web of Science (WOS) (literal)

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• Dipartimento di Fisica & CNISM, Università degli Studi di Ferrara, via G. Saragat, 1, I-44122 Ferrara, Italia; European Synchrotron Radiation Facility, BP 220, F-38043 Grenoble, France; IMEM-CNR, Parco Area delle Scienze, 37/A I-43124 Parma, Italia (literal)

Titolo

• Interplay between spontaneous in-plane long range order and vertical correlation length in sputtered Co/Cu multilayers (literal)

Abstract

• The interplay between non-local phenomena during growth and the evolution of interfacial roughness was investigated in Co/Cu multilayers grown by rf-magnetron sputtering. In particular, we compared samples where the presence of correlated interfacial roughness, namely interface undulations, is more or less pronounced by changing the underlayer or the multilayer stacking. We performed anomalous grazing incidence measurements to observe how the vertical correlation length, ??, changes as a function of the in-plane length scale of the roughness, L. ?? is expected to monotonically decrease with L. but we found that ?? displays a maximum for specific L values featuring a high degree of in-plane correlation. This effect seems to be related with the features of the multilayer stacking. (literal)

Editore

• ELSEVIER SCIENCE SA (Editore)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Progettazione, preparazione e studio di materiali magnetici funzionali (MD.P04.002.001) (Modulo)

Autore CNR

• FRANCA ALBERTINI (Persona)
• FRANCESCA CASOLI (Unità di personale interno)

Insieme di parole chiave

• Parole chiave di "Interplay between spontaneous in-plane long range order and vertical correlation length in sputtered Co/Cu multilayers" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• FRANCA ALBERTINI (Persona)
• FRANCESCA CASOLI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Progettazione, preparazione e studio di materiali magnetici funzionali (MD.P04.002.001) (Modulo)

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• Thin solid films (Rivista)

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• ELSEVIER SCIENCE SA (Editore)

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• Parole chiave di "Interplay between spontaneous in-plane long range order and vertical correlation length in sputtered Co/Cu multilayers" (Insieme di parole chiave)