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Determination of nanoparticle structure type, size and strain distribution from X-ray data for monatomic f.c.c.-derived non-crystallographic nanoclusters (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Determination of nanoparticle structure type, size and strain distribution from X-ray data for monatomic f.c.c.-derived non-crystallographic nanoclusters (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2003-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Alternative label
Cervellino A.1, Giannini C. 1, Guagliardi A. 1 (2003)
Determination of nanoparticle structure type, size and strain distribution from X-ray data for monatomic f.c.c.-derived non-crystallographic nanoclusters
in Journal of applied crystallography
(literal)
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- Cervellino A.1, Giannini C. 1, Guagliardi A. 1 (literal)
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- Rivista
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- Con il termine nanotecnologia si definisce la creazione di materiali,
dispositivi e sistemi attraverso il controllo della materia su scala
nanometrica.
Lemergere di questo nuovo settore di ricerca nellambito delle scienze pure ed applicate costituisce una rivoluzione nella comprensione e nel controllo dei fenomeni fisici, chimici e biologici che governano il mondo che ci circonda.
Inoltre costituisce un nuovo paradigma per la realizzazione di classi
disparate di oggetti e di materiali con particolari qualità meccaniche,
chimiche, ottiche, elettriche, magnetiche, ....
L'Istituto di Cristallografia del CNR (sede di Bari) sta sviluppando un
nuovo approccio metodologico cristallografico per effettuare una analisi
microstutturale (dimensioni, deformazione, forma) di materiali nanocristallini e di miscele di questi. L'analisi si basa sull'utilizzo di dati di diffrazione da polveri.
Il modello prevede di trattare nanocristalli di forme varie (sferica, cilindrica, disco etc) aventi una monodispersione in dimensioni e una deformazione reticolare variabile con la dimensione dei nanocristalli.
Lo sviluppo prevedibile di questo progetto consisterà nella messa a
punto di un software per trattare dati di diffrazione da polvere e, tramite questi, per studiare strutturalmente nanocristalli metallici, ossidi (anche magnetici) e semiconduttori in un intervallo di dimensioni da pochi nanometri fino a qualche decina di nanometri.
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- Note
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- Titolo
- Determination of nanoparticle structure type, size and strain distribution from X-ray data for monatomic f.c.c.-derived non-crystallographic nanoclusters (literal)
- Abstract
- Whole-profile fitting least-squares techniques are successfully applied to simulated X-ray diffraction patterns of monoatomic fcc-derived non-crystallographic nanoclusters to extract structure and size information. Three main structure types have been considered (cuboctahedral, icosahedral and decahedral). Nanocluster structure models have been generated within an original mathematical approach so as to be independent
of a specific material. For each structure type, a log-normal size distribution is assumed and a suitable phenomenological function
is introduced to model size- and structure type-related strain effects. The Debye function method (modified to increase computational efficiency) has been used to obtain the nanoclusters diffracted intensities.
Tests revealed the effectiveness of the method to correctly recognize the
structure types and to estimate with good accuracy structure concentrations and size distributions.
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