Two-beam interferometer for measuring aberrations of optical components with axial symmetry (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• Two-beam interferometer for measuring aberrations of optical components with axial symmetry (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2001-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi

• 10.1364/AO.40.001631 (literal)

Alternative label

• Sergio De Nicola; Pietro Ferraro; Andrea Finizio; Giovanni Pierattini (2001)
  Two-beam interferometer for measuring aberrations of optical components with axial symmetry
  in Applied optics
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Sergio De Nicola; Pietro Ferraro; Andrea Finizio; Giovanni Pierattini (literal)

Pagina inizio

• 1631 (literal)

Pagina fine

• 1636 (literal)

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• http://www.opticsinfobase.org/ao/abstract.cfm?id=63830 (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume

• 40 (literal)

Rivista

• Applied optics (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroFascicolo

• 10 (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni

• Istituto di Cibernetica del CNR, Via Toiano 6, 80072 Arco Felice (NA), Italy; Istituto Nazionale di Ottica Applicata, Sez. di Napoli, Via Toiano 6, 80072 Arco Felice (NA), Italy (literal)

Titolo

• Two-beam interferometer for measuring aberrations of optical components with axial symmetry (literal)

Abstract

• We present a concept of interferometric testing, believed to be novel, that can be applied to measuring aberrations of optical components that have rotational symmetry. The optical configuration uses two coherent, collimated wave fronts that are tilted to impinge upon the optical component being tested such that one beam is on axis and the other is off axis. For small tilt angles the two aberrated wave fronts can be considered to be carrying the same aberrations. Furthermore, the off-axis beam is displaced along a direction orthogonal to the optical axis of the component. Interference between the two aberrated wave fronts produces a fringe pattern that is similar to a lateral shear interference pattern. Moiré fringes are obtained by spatial beating of the interference pattern with a CCD TV camera array. Under such conditions it is possible to subtract most of the linear carrier that is intrinsically present in the resultant fringe pattern owing to the large defocus aberration and tilt. (literal)

Prodotto di

• Sviluppo di tecniche di diagnostica ottica, microscopia ed interferometria (MD.P03.022.001) (Modulo)
• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)

Autore CNR

• ANDREA FINIZIO (Unità di personale interno)
• GIOVANNI PIERATTINI (Unità di personale interno)
• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)
• SERGIO DE NICOLA (Persona)

Insieme di parole chiave

• Keywords of "Two-beam interferometer for measuring aberrations of optical components with axial symmetry" (Insieme di parole chiave)

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Autore CNR di

• PIETRO FERRARO (Unità di personale interno)
• SERGIO DE NICOLA (Persona)
• ANDREA FINIZIO (Unità di personale interno)
• GIOVANNI PIERATTINI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Istituto di cibernetica \"Edoardo Caianiello\" (ISASI) (Istituto)
• Sviluppo di tecniche di diagnostica ottica, microscopia ed interferometria (MD.P03.022.001) (Modulo)

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• Applied optics (Rivista)

Insieme di parole chiave di

• Keywords of "Two-beam interferometer for measuring aberrations of optical components with axial symmetry" (Insieme di parole chiave)