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Progress in fabrication of high quality tantalum film absorber for STJ radiation detector (Articolo in rivista)
- Type
- Label
- Progress in fabrication of high quality tantalum film absorber for STJ radiation detector (Articolo in rivista) (literal)
- Anno
- 2004-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#doi
- 10.1016/j.nima.2003.11.334 (literal)
- Alternative label
M.P. Lissitski, D. Perez de Lara, R. Cristiano, M.L. Della Rocca, L. Maritato, M. Salvato (2004)
Progress in fabrication of high quality tantalum film absorber for STJ radiation detector
in NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
(literal)
- Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
- M.P. Lissitski, D. Perez de Lara, R. Cristiano, M.L. Della Rocca, L. Maritato, M. Salvato (literal)
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- secondo l'ordinamento russo l'autore LISSITSKI è la stessa persona fisica di quella della generalità Mikhail Lisitskiy. (literal)
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- Rivista
- Note
- ISI Web of Science (WOS) (literal)
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- a C.N.R., Istituto di Cibernetica E.Caianiello, via Campi Flegrei 34, Pozzuoli, Napoli I-80078, Italy
b I.N.F.N., Sezione di Napoli, Complesso Univ. di Monte Sant'Angelo, Via Cintia, Napoli I-80126, Italy
c Dipartimento di Fisica, INFM, Universitá di Salerno, Via S. Allende, I-84081 Baronissi, Salerno, Italy
d C.N.R., Istituto di Cibernetica E.Caianiello, via Campi Flegrei 34, Pozzuoli, Napoli I-80078, Italy (literal)
- Titolo
- Progress in fabrication of high quality tantalum film absorber for STJ radiation detector (literal)
- Abstract
- We report the fabrication and characterization of high quality tantalum films as absorbers for STJ radiation detectors. Values of the residual resistance ratio up to 75 and bulk value of the superconducting transition temperature T-c = 4.5 +/- 0.1 K have been achieved. Devices for detection with lateral aluminum superconducting tunnel junctions have been fabricated on such films. The detector response to X-ray is discussed. (C) 2003 Elsevier B.V. All rights reserved. (literal)
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