Combining Microscopic (SEM-BSE), Microanalytical (EMP+SIMS) and X-Ray Diffraction Techniques in the Study of Igneous Rock Samples for Geochemical Modelling (Abstract/Comunicazione in atti di convegno)

Type
Label
  • Combining Microscopic (SEM-BSE), Microanalytical (EMP+SIMS) and X-Ray Diffraction Techniques in the Study of Igneous Rock Samples for Geochemical Modelling (Abstract/Comunicazione in atti di convegno) (literal)
Anno
  • 2001-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • DELLA VENTURA G.; OBERTI R.; OTTOLINI L.; TERRY W.C. (2001)
    Combining Microscopic (SEM-BSE), Microanalytical (EMP+SIMS) and X-Ray Diffraction Techniques in the Study of Igneous Rock Samples for Geochemical Modelling
    in EUG XI, Strasbourg (France), 8-12 April (2001)
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • DELLA VENTURA G.; OBERTI R.; OTTOLINI L.; TERRY W.C. (literal)
Pagina inizio
  • 679 (literal)
Pagina fine
  • 680 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#volumeInCollana
  • PCM6 (literal)
Rivista
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
  • Abstract (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • DELLA VENTURA G. 1); OBERTI R. 2); OTTOLINI L. 2); TERRY W.C. 3). 1) Dipartimento di Scienze della Terra, Arcavacata di Rende (CS), Italy; 2) CNR-Centro di Studio per la Cristallochimica e la Cristallografia, Pavia (Pv), Italy; 3) Department of Mineralogy, The Natural History Museum, Cromwell Road, London SW7 5BD, U.K. (literal)
Titolo
  • Combining Microscopic (SEM-BSE), Microanalytical (EMP+SIMS) and X-Ray Diffraction Techniques in the Study of Igneous Rock Samples for Geochemical Modelling (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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