Sistema interferometrico per la misura simultanea dell'indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento (Brevetto)

Type
Label
  • Sistema interferometrico per la misura simultanea dell'indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento (Brevetto) (literal)
Anno
  • 2002-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • De Nicola S, G Coppola, P Ferraro, Iodice M Coppola G, Ferraro P, Iodice M, De Nicola S (2002)
    Sistema interferometrico per la misura simultanea dell'indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento
    RM 2002A000397
    (literal)
Titolo
  • Sistema interferometrico per la misura simultanea dell'indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • De Nicola S, G Coppola, P Ferraro, Iodice M Coppola G, Ferraro P, Iodice M, De Nicola S (literal)
Numero brevetto
  • RM 2002A000397 (literal)
Anno di deposito
  • 2002 (literal)
Titolo
  • Sistema interferometrico per la misura simultanea dell'indice di rifrazione e dello spessore di materiali trasparenti e relativo procedimento (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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