Advanced real time metrology of AlGaN/GaN and InGaN/GaN epitaxy (Articolo in rivista)

Type
Label
  • Advanced real time metrology of AlGaN/GaN and InGaN/GaN epitaxy (Articolo in rivista) (literal)
Anno
  • 2010-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • T.-H. Kim, S. Choi, A. S. Brown, M. Losurdo, G. V. Bianco, M. M. Giangregorio, G. Bruno (2010)
    Advanced real time metrology of AlGaN/GaN and InGaN/GaN epitaxy
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • T.-H. Kim, S. Choi, A. S. Brown, M. Losurdo, G. V. Bianco, M. M. Giangregorio, G. Bruno (literal)
Pagina inizio
  • 124 (literal)
Pagina fine
  • 129 (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#numeroVolume
  • 75 (literal)
Note
  • ISI Web of Science (WOS) (literal)
Titolo
  • Advanced real time metrology of AlGaN/GaN and InGaN/GaN epitaxy (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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