Analisi di superficie mediante sppettrofotometria fotoelettronica a raggi X (XPS) si campioni di alluminio verniciato (Rapporti tecnici, manuali, carte geologiche e tematiche e prodotti multimediali)

Type
Label
  • Analisi di superficie mediante sppettrofotometria fotoelettronica a raggi X (XPS) si campioni di alluminio verniciato (Rapporti tecnici, manuali, carte geologiche e tematiche e prodotti multimediali) (literal)
Anno
  • 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Traverso P. (2006)
    Analisi di superficie mediante sppettrofotometria fotoelettronica a raggi X (XPS) si campioni di alluminio verniciato
    (literal)
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  • Traverso P. (literal)
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  • Relazione per conto di UNIGE – DICHEP nell’ambito della convenzione relativa al progetto PST. (literal)
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  • Altro (literal)
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  • CNR-ISMAR, Sede di Genova, Via de’ Marini 6, 16149 Genova (literal)
Titolo
  • Analisi di superficie mediante sppettrofotometria fotoelettronica a raggi X (XPS) si campioni di alluminio verniciato (literal)
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