Caratterizzazione di strutture Ge/Si mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (TEM) e Diffrazione a Raggi X (Rapporti progetti di ricerca)

Type
Label
  • Caratterizzazione di strutture Ge/Si mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (TEM) e Diffrazione a Raggi X (Rapporti progetti di ricerca) (literal)
Anno
  • 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • Nasi L. (2006)
    Caratterizzazione di strutture Ge/Si mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (TEM) e Diffrazione a Raggi X
    (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori
  • Nasi L. (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto
  • Rapporto finale di un contratto di ricerca IMEM-CORECOM (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#supporto
  • Altro (literal)
Titolo
  • Caratterizzazione di strutture Ge/Si mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (TEM) e Diffrazione a Raggi X (literal)
Prodotto di
Autore CNR

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