Caratterizzazione di sezioni trasversali di film di Ge cresciuti in buche di ossido mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (Rapporti progetti di ricerca)

Type

• Prodotto della ricerca (Classe)
• Rapporti progetti di ricerca (Classe)

Label

• Caratterizzazione di sezioni trasversali di film di Ge cresciuti in buche di ossido mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (Rapporti progetti di ricerca) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Nasi L. (2006)
  Caratterizzazione di sezioni trasversali di film di Ge cresciuti in buche di ossido mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione
  
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Nasi L. (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#descrizioneSinteticaDelProdotto

• Rapporto finale di un contratto di ricerca IMEM-CORECOM (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#supporto

• Altro (literal)

Titolo

• Caratterizzazione di sezioni trasversali di film di Ge cresciuti in buche di ossido mediante Microscopia Elettronica in Trasmissione (literal)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)

Autore CNR

• LUCIA NASI (Unità di personale interno)

Incoming links:

Autore CNR di

• LUCIA NASI (Unità di personale interno)

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sviluppo, caratterizzazione strutturale e modelling di strutture avanzate per elettronica (MD.P05.002.001) (Modulo)