Spettrometro portatile per misure XRF da utilizzare nel settore dei beni culturali (Risultati di valorizzazione applicativa)

Type
Label
  • Spettrometro portatile per misure XRF da utilizzare nel settore dei beni culturali (Risultati di valorizzazione applicativa) (literal)
Anno
  • 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)
Alternative label
  • P. Plescia, G.M. Ingo, A. Bianco, T. De caro, C. Riccucci (2006)
    Spettrometro portatile per misure XRF da utilizzare nel settore dei beni culturali
    (literal)
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  • P. Plescia, G.M. Ingo, A. Bianco, T. De caro, C. Riccucci (literal)
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  • Assing SpA (literal)
Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#affiliazioni
  • P. Plescia [1] , G.M. Ingo [1], A. Bianco, T. De Caro [1], C. Riccucci [1] [1] Istituto per lo Studio dei materiali nanostrutturati-CNR, Area della Ricerca di Roma 1, via Salaria Km 29.3, 00015 Monterotondo, Rome, Italy [2] ASSING SpA, Monterotondo, Rome, Italy (literal)
Titolo
  • Spettrometro portatile per misure XRF da utilizzare nel settore dei beni culturali (literal)
Abstract
  • THE XRF-XRD APPARATUS WAS DEVELOPED IN THEFRAMEWORK OF THE EUREKA SURFACE MONITOR PROJECT. AIMED TO DEVELOP OF A PORTABLE X-RAY SPECTROMETER FOR DIFFRACTION AND FLUORESCENCE ANALYSES TO BE USED FOR THE CHARACTERIZATION IN SITU OF CULTURAL HERITAGE ARTEFACTS. IN THE FRAME OF THE SURFACE MONITOR PROJECT AN INNOVATIVE, PORTABLE AND RAPID X-RAY SPECTROMETER FOR DIFFRACTION AND FLUORESCENCE ANALYSES HAS BEEN DESIGNED, REALISED AND VALIDATED VIA IN-SITU AND LABORATORY ANALYSES OF DIFFERENT ANCIENT ARTEFACTS. (literal)
Prodotto di
Autore CNR
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